粉塵爆炸(zha)性(xing)低著火(huo)溫(wen)度測試判定的測試方(fang)法

稱量(liang)0.1g的粉塵裝(zhuang)入(ru)儲塵器中(zhong),將加熱爐溫度(du)調(tiao)到(dao)500℃,並將儲氣(qi)室氣(qi)壓調(tiao)到(dao)10kPa。打(da)開電(dian)磁閥,將粉塵噴(pen)入(ru)加熱爐內。如果未(wei)出(chu)現(xian)著(zhe)火(huo),則以50℃的步長(chang)升(sheng)高加熱爐溫度(du),重(zhong)新(xin)裝入(ru)相(xiang)同(tong)質量的粉塵進(jin)行實(shi)驗(yan),直至出現(xian)著(zhe)火(huo)或加熱爐溫度(du)達(da)到700℃為(wei)止(zhi)。

壹旦出現(xian)著(zhe)火(huo),則改(gai)變(bian)粉(fen)塵的質量和(he)噴(pen)粉(fen)壓(ya)力,直到出(chu)現(xian)劇(ju)烈的著火(huo)。然(ran)後,保(bao)持粉塵質量和(he)噴(pen)粉(fen)壓(ya)力不變(bian),以(yi)20℃的步長(chang)降(jiang)低加熱爐的溫度(du)進(jin)行實(shi)驗(yan),直至10次實(shi)驗(yan)均未(wei)出(chu)現(xian)著(zhe)火(huo)。如(ru)果在(zai)300℃時(shi)仍(reng)出(chu)現(xian)著(zhe)火(huo),則以10℃的步長(chang)降(jiang)低加熱爐的溫度(du)。當(dang)實驗(yan)到未(wei)出(chu)現(xian)著(zhe)火(huo)時(shi),改(gai)變(bian)粉(fen)塵質量和(he)噴(pen)粉(fen)壓(ya)力,取(qu)下壹個(ge)溫度值。實(shi)驗(yan)過(guo)程(cheng)中(zhong)粉(fen)塵質量和(he)噴(pen)粉(fen)壓(ya)力根據具體(ti)實(shi)驗(yan)需(xu)要(yao)進(jin)行調整,以(yi)研(yan)究(jiu)粉塵濃度、噴粉(fen)壓力(li)對(dui)z低(di)著(zhe)火(huo)溫(wen)度的影響。

北京鑫(xin)生卓銳(rui)科技(ji)有限公司研(yan)發(fa)生產(chan)供應(ying)ZR-FCY-8A型粉塵雲(yun)z低著(zhe)火(huo)溫(wen)度測試儀

本(ben)儀器用於(yu)測試可燃粉(fen)塵的z低著(zhe)火(huo)溫(wen)度，評價粉(fen)塵雲(yun)自(zi)燃的潛在爆炸(zha)危(wei)險性(xing)。用於(yu)測試粉(fen)塵雲(yun)在特(te)定加熱環境(jing)下(xia)發(fa)生著火(huo)敏(min)感度(du)的測試儀器。

主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)鋁粉(fen)、鋅粉(fen)、塑料(liao)粉末(mo)、有機合成(cheng)藥(yao)品(pin)的中(zhong)間(jian)體(ti)、小(xiao)麥粉、糖、木屑(xie)、染料(liao)、膠木(mu)灰(hui)、奶粉(fen)、茶(cha)葉(ye)粉(fen)末、煙草(cao)粉末(mo)、煤塵、植物纖(xian)維塵等(deng)生產(chan)加工場所的粉塵爆炸(zha)性(xing)評估，測定粉塵雲(yun)的z低著(zhe)火(huo)溫(wen)度。

粉(fen)塵爆炸(zha)性(xing)低著火(huo)溫(wen)度測試判定的數據處理

噴(pen)粉(fen)後,加熱爐管下端若(ruo)有火(huo)焰噴岀(岀)或火(huo)焰滯後噴(pen)出,則判為(wei)著火(huo);若(ruo)只有火(huo)星而沒(mei)有火(huo)焰,則判為(wei)未(wei)著(zhe)火(huo)。按照(zhao)國(guo)際電(dian)工委(wei)員(yuan)會測試標準(zhun),工業實(shi)際(ji)中(zhong)應(ying)用的粉塵雲(yun)z低著(zhe)火(huo)溫(wen)度值應(ying)在實驗(yan)測試數(shu)據的基礎(chu)上(shang)加以校正,如所測粉(fen)塵雲(yun)z低著(zhe)火(huo)溫(wen)度為(wei)T(min test),則國際(ji)電(dian)工委(wei)員(yuan)會規(gui)定的著火(huo)溫(wen)度按下(xia)式(shi)計(ji)算(suan)：

若T(min test)>300℃,則T(min IEC)=T(min test)-20℃

若T(min test)<300℃,則T(min IEC)=T(min test)-10℃