C84-III型(xing)反(fan)射率測定(ding)儀(yi) 塗料(liao)油(you)墨顏(yan)料(liao)反(fan)射率遮(zhe)蓋力測(ce)試(shi)儀(yi)
C84-III型(xing)反(fan)射率測定(ding)儀(yi) 塗料(liao) 油(you)墨 顏(yan)料(liao) 反(fan)射率測試儀(yi) 遮(zhe)蓋力檢(jian)測(ce)儀(yi)
壹、概(gai)述
我公司(si)生產的(de)C84-Ⅲ型(xing)反(fan)射率測定(ding)儀(yi)是為塗(tu)料(liao)、顏(yan)料(liao)、油(you)墨等化工行業(ye)貫(guan)徹執(zhi)行(xing)國際標(biao)準、而(er)研(yan)制(zhi)的(de)儀(yi)器(qi)。它可(ke)用(yong)於(yu)漆膜(mo)遮(zhe)蓋力的(de)測定(ding)。該儀(yi)器(qi)符(fu)合國際(ji)標(biao)準ISO3906-1980(E)、GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88對該儀(yi)器(qi)的(de)規定(ding)要(yao)求。
二(er)、工作原理(li)
本(ben)儀(yi)器(qi)由(you)探頭(tou)、主體、標(biao)準板(黑(hei)白(bai)各(ge)壹塊)、工作陶(tao)瓷(ci)板(黑(hei)白(bai)各(ge)兩塊(kuai))等組(zu)成(cheng)。探頭(tou)采(cai)用0°照(zhao)射,漫反(fan)射接收(shou)的(de)原理(li)。當(dang)試樣(yang)的(de)反(fan)射光(guang)作用(yong)於(yu)矽光(guang)電池表(biao)面(mian)產生電訊號輸入(ru)到(dao)直流(liu)放大器(qi)進行(xing)放大,並予以(yi)讀(du)數顯(xian)示(shi)(詳(xiang)見(jian)光(guang)路原理(li)圖及儀(yi)器(qi)框圖)。
三、主要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數(shu):
1、測(ce)量(liang)範圍 0~100
2、重復(fu)精度(du) 0.3%
3、顯(xian)示(shi)數(shu)據(ju)與反(fan)射光(guang)強(qiang)度(du)成(cheng)正(zheng)比
4、儀(yi)器(qi)的(de)光(guang)普靈(ling)敏度近(jin)似(si)等於(yu)Sc與Y的(de)乘積
5、環境(jing)溫度(du) 20°±5° 相對濕(shi)度(du)<85%
6、輸入(ru)電(dian)源 220V±10% 50Hz
四、使(shi)用(yong)方(fang)法:
1、把(ba)探頭(tou)與電控(kong)箱(xiang)連接,同時接(jie)上電(dian)源,開機(ji)預熱(re)10-15分(fen)鐘。此(ci)時應把探頭(tou)放在黑(hei)色標(biao)準板上為佳。
2、校零(ling):把探(tan)頭(tou)放在白色標(biao)準板上,調(tiao)整主(zhu)機(ji)上的(de)校零(ling)旋鈕(niu),使(shi)主(zhu)機(ji)數字(zi)顯(xian)示(shi)為000.0,允許(xu)變動±0.1.
3、校正(zheng)標(biao)準值(zhi):把探頭(tou)放在白色標(biao)準板上,調(tiao)整主(zhu)機(ji)的(de)校標(biao)旋鈕(niu),使(shi)主(zhu)機(ji)顯(xian)示(shi)的(de)數值(zhi)與白(bai)色標(biao)準板的(de)標(biao)定(ding)壹致(zhi)。允許(xu)變動±0.1反(fan)復(fu)調整(zheng)壹次(校零(ling)、校標(biao))。
4、測量(liang)RB值:把探(tan)頭(tou)移至(zhi)放有試樣(yang)的(de)黑(hei)色工作陶(tao)瓷(ci)板上,顯(xian)示(shi)器(qi)所顯(xian)示(shi)的(de)數值(zhi)即為RB值(zhi)。
5、測量(liang)RW值:把探(tan)頭(tou)移至(zhi)放有試樣(yang)的(de)白色工作陶(tao)瓷(ci)板上,顯(xian)示(shi)器(qi)所顯(xian)示(shi)的(de)數值(zhi)即 為RW值(zhi)。
6、計算(suan)求得對比率(lv) 對比率(lv)(遮(zhe)概率)= RB/RW ×100%

五(wu)、註意(yi)事項
1、為保證(zheng)測量(liang)精度,測(ce)量(liang)環境(jing)溫度(du)應接近(jin)25°C。儀(yi)器(qi)應經常校準,允許(xu)偏差(cha)為±0.3,若大於(yu)0.3需要(yao)新校準。
2、為克服(fu)矽光(guang)電池的(de)光(guang)照疲(pi)勞現象(xiang),在測試的(de)間(jian)隙(xi)時間(jian)內應將(jiang)探(tan)頭(tou)放在黑(hei)色標(biao)準板上面(mian)。減(jian)少(shao)插(cha)頭(tou)的(de)拔插(cha)次數(shu),以(yi)免損壞插頭(tou),造(zao)成(cheng)接觸(chu)不良(liang)。
3、白(bai)色標(biao)準版(ban)應遠離汙(wu)染,否(fou)則會影響(xiang)測(ce)量(liang)精度。如(ru)有(you)汙(wu)漬可(ke)用(yong)高(gao)級(ji)繪(hui)圖橡(xiang)皮(pi)除(chu)凈。
4、試(shi)樣(yang)的(de)制(zhi)備應嚴格依照(zhao)相關(guan)的(de)GB9271-88的(de)規定(ding)進行(xing)。
六、使(shi)用(yong)維(wei)護及(ji)故(gu)障(zhang)排(pai)除(chu)
1、本儀(yi)器(qi)中采(cai)用了高(gao)靈(ling)敏的(de)光(guang)電轉(zhuan)換裝(zhuang)置,使(shi)用(yong)時要(yao)保證(zheng)本儀(yi)器(qi)的(de)光(guang)學(xue)、電路(lu)部分(fen)不受外界(jie)環境(jing)影響(xiang)。吸(xi)附在(zai)探(tan)頭(tou)中透光(guang)玻(bo)璃上的(de)灰塵(chen)或水汽會影響(xiang)測(ce)量(liang)讀數,要(yao)用鏡(jing)布(bu)及時擦凈。黑(hei)白(bai)標(biao)準板每(mei)次(ci)使(shi)用(yong)前均擦凈,如(ru)環境(jing)中有(you)腐蝕(shi)性(xing)氣體會損(sun)壞儀(yi)器(qi)中的(de)光(guang)電元件。探頭(tou)不用時(shi)應放在幹燥密封(feng)的(de)環境(jing)中。
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